光MOS傳感器生產(chǎn)檢測核心清潔痛點與難點
光MOS傳感器是傳感器件的核心組件,其光敏面、電極結(jié)構(gòu)的潔凈度直接決定光電性能與檢測可靠性,全流程清潔痛點突出:
芯片制造環(huán)節(jié):光刻、蝕刻工藝易產(chǎn)生金屬顆粒,細微雜質(zhì)附著在光敏面或電極表面,會導致光響應不均、暗電流增大,傳統(tǒng)清潔難以徹底清除且易損傷光敏涂層;
封裝測試環(huán)節(jié):鍵合、封裝過程中易吸附環(huán)境微塵、膠黏劑殘留,接觸式清潔易造成電極變形、光敏面劃傷,影響傳感器的光電轉(zhuǎn)換效率;
高端應用環(huán)節(jié):工業(yè)視覺、自動駕駛等場景對光MOS傳感器精度要求極高,微塵會直接導致檢測誤差、信號失真,進一步提升了清潔作業(yè)的難度。
東凱·非接觸式清潔設(shè)備解決方案
針對上述痛點,我們的設(shè)備可精準適配光MOS傳感器的光電特性與精密結(jié)構(gòu),提供高效清潔保障:
特種結(jié)構(gòu)設(shè)計:微納級多吸入口陣列布局,精準覆蓋光敏面與電極間隙,配合定向負壓吸附,高效收集細微污染物,杜絕清潔過程中的二次污染與光敏面損傷;
穩(wěn)定性能保障:超精密轉(zhuǎn)速監(jiān)控+穩(wěn)定轉(zhuǎn)軸設(shè)計,供氣壓波動或即使達到5.0㎏/?時仍保持恒定低震轉(zhuǎn)速,確保清潔過程中電極結(jié)構(gòu)無變形、光敏涂層無損傷;
精準高效清潔:基于現(xiàn)場經(jīng)驗與氣流模擬算法,優(yōu)化氣嘴孔徑與氣流參數(shù),實現(xiàn)非接觸式精密除塵,徹底清除光敏面、電極表面的金屬顆粒與微塵;
降本提質(zhì)優(yōu)勢:可集成至傳感器檢測流水線,實現(xiàn)自動化清潔,減少人工干預,提升光電性能一致性與檢測通過率,降低返工成本,性能經(jīng)頭部傳感器件企業(yè)嚴格驗證,適配各類高端光MOS傳感器應用場景。